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Erscheinungsjahrnase: 1996 <a href="/de/fs3/subjectRVK-index/query.html?mode=subjectRVK&amp;person_str=%7BSharp%2C+T.%7D%7BSeifert%2C+Friedrich%7D" target="_self">[Filter entfernen]
Autor / Herausgebernase: Sharp, T. ; Seifert, Friedrich <a href="/de/fs3/subjectRVK-index/query.html?pubYear=%7B1996%7D&amp;mode=subjectRVK" target="_self">[Filter entfernen]

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Distinction between six- and fourfold coordinated silicon in SiO2 polymorphs via electron loss near edge structure (ELNES) spectroscopy; 1 [Relevanz: 100%]
Autor / Herausgeber: Sharp, T.; Seifert, Friedrich | Verlagsort: Berlin | Verlag: Springer | Erscheinungsjahr: 1996 | 8 S.
Zeitschrift / Sammelband: Physics and chemistry of minerals; 23
Fachgebiet: Chemie und Pharmazie; Physik

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