1 Treffer in 0.006 Sek.
Distinction between six- and fourfold coordinated silicon in SiO2 polymorphs via electron loss near edge structure (ELNES) spectroscopy; 1
[Relevanz: 100%]
Autor / Herausgeber: Sharp, T.; Seifert, Friedrich | Verlagsort: Berlin | Verlag: Springer | Erscheinungsjahr: 1996 | 8 S.
Zeitschrift / Sammelband: Physics and chemistry of minerals; 23
Fachgebiet: Chemie und Pharmazie; Physik
Autor / Herausgeber: Sharp, T.; Seifert, Friedrich | Verlagsort: Berlin | Verlag: Springer | Erscheinungsjahr: 1996 | 8 S.
Zeitschrift / Sammelband: Physics and chemistry of minerals; 23
Fachgebiet: Chemie und Pharmazie; Physik