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Distinction between six- and fourfold coordinated silicon in SiO2 polymorphs via electron loss near edge structure (ELNES) spectroscopy; 1 [Relevanz: 100%]
Autor / Herausgeber: Sharp, T.; Seifert, Friedrich |  Verlagsort: Berlin |  Verlag: Springer |  Erscheinungsjahr: 1996 | 8 S.
Zeitschrift / Sammelband: Physics and chemistry of minerals; 23
Fachgebiet: Chemie und Pharmazie; Physik
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