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Distinction between six- and fourfold coordinated silicon in SiO2 polymorphs via electron loss near edge structure (ELNES) spectroscopy
Autor / Herausgeber
: Sharp, T. ; Seifert, Friedrich
Verlagsort
: Berlin |
Erscheinungsjahr
: 1996 |
Verlag
: Springer
Signatur
: Z 77.602-23#S.17-24
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