Distinction between six- and fourfold coordinated silicon in SiO2 polymorphs via electron loss near edge structure (ELNES) spectroscopy
Autor / Herausgeber: Sharp, T. ; Seifert, Friedrich
Autor / Herausgeber: Sharp, T. ; Seifert, Friedrich
Verlagsort:
Berlin |
Erscheinungsjahr:
1996 |
Verlag:
Springer
Signatur: Z 77.602-23#S.17-24
Signatur: Z 77.602-23#S.17-24
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